涂层测厚仪 - CHY-115 涂层测厚仪/膜厚计CHY115 - 规格参数
CHY -115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
产品特色：
■CE认证合格
■可侦测导磁金属材料（如铁、钢等），非导磁金属材料（如铝、铜等） ■资料储存支援255笔
■可设定高/低警报蜂鸣的读值范围
■选择平均值，最大值，最小值及最大值 - 最小值
■常用厚度量测点可使用快速一点校正
■两点校正正常操作
■背光显示
■使用者可选择微米/密尔
■自动关机功能
CHY -115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
一般规格：
显示：31 / 2位数字液晶显示，最大1999读值。
电池电压不足显示：当鏁电池电压差低于操作电压差时，
“”显示。
操作环境：0° C至40° C，相对湿度<90％RH。
避免有强度磁场的环境。
储存环境：-20° C至60° C，0至80％R.H. （电池移除后）。
精确度测试环境：23° C±5° C，相对湿度<75％RH。
自动关机：15秒。
尺寸：148毫米（高）x105mm（宽）x42mm（厚）。
CHY -115 涂层测厚仪/膜厚计CHY115
技术资料：
范围：0至40.0mils（0至1000μm）
解析度：0.1mils/1μm
回应时间：1秒
精确度：
±（4位）在0至7.8mils
±（10位）在0至199μm
±（3％4位）在7.9mils至40mils
±（3％+10位）在200微米至1000μm
